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半導体中古装置 レーザーリペア装置 オゾン測定機器

ソーラパネル用シリコンWafer厚み測定
① 装置名称 ソーラパネル用シリコンWafer厚み測定
② 型　　　名 DWI-L
③ メーカ　名 TECC
④ 装置台数 １台
⑤ インチサイズ □１０４ｘ１２５ｘ１５６　　　T=500U以下
⑥ 取得年月 　
⑦ 仕様書／取扱説明書 有
⑧ 写　　　真 有
⑨ 付属品 有
⑩ 購入時に参考価格 　
⑪ 希望販売価格 応談
⑫ 装置状況 温湿度管理保管倉庫
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