| ① |
装置名称 |
テストシステムVLSI（ＭＣＵ／VLSI） |
| ② |
型 名 |
T3347A 1st Test System |
| ③ |
メーカ 名 |
ADVANTEST |
| ④ |
装置台数 |
２Sets |
| ⑤ |
インチサイズ |
----- |
| ⑥ |
取得年月 |
2000年 |
| ⑦ |
仕様書／カタログ |
有り／正式カタログ有り |
| ⑧ |
取扱説明書 |
有り |
| ⑨ |
写 真 |
有り |
| ⑩ |
付属品 |
有り |
| ⑪ |
装置保管状態 |
温湿度管理保管状態 |
| ⑫ |
購入時に参考価格 |
約￥100,000,000-前後 |
| ⑬ |
販売価格 |
応談 |
| ⑭ |
装置状況 |
傷なし（新品同様の装置） |
| ⑮ |
寸 法 |
本体：164cm×96cm×h96cm
重さ：1,000kg
TEST HED：80×160×h55
重さ：1,030kg |
| HIFIX |
256HVS |
| VKT(操作端末)数 |
1 |
| テストプロセッサ |
TP4 |
| メモリサイズ |
3MB |
| タイミング発生器 |
32エッジ |
| タイミングセット(RTTC) |
16レベル |
| STE (STimulus&Expected vector buffer) |
2MW |
| DFM (Data Fail Memory) |
256W |
| SBM (Super Buffer Memory) |
256MB |
| UDC (Universal DC) |
4ch |
| MDC (Multiple DC) |
16ch |
| PPS (Programmable Power Supply) |
4PPS |
| DCAP (Data Capture) |
- |
| SCPG (Scan Pattern Generator) |
- |
| ALPG (Algorithmic Pattern Generator) |
有り |
| 60V PPS |
- |
| ADC (A/D Converter) |
有り |
| IDDQ (テストの種類) |
- |
| OS REV |
5.07E1 |
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