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| 半導体中古装置 |
レーザーリペア装置 |
オゾン測定機器 |
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| 製品名 | メーカ | 型式 | 取得年月 | |
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| ① | MANUAL PROBER ( Manipulater8pcs) |
日本マイクロニクス | ７０５A | 1998 |
| ② | Tester １ Sets | ADVANTEST | T3347A | 2000 |
| ③ | Tester | ADVANTEST | T5581H | 1996 |
| ④ | Prober １ Sets （-55～１５０℃）低温 |
TEL | P12―XL n+ | 2004 |
| ⑤ | 膜厚計 6inch | TECC／Tokushima | DWI-L | |
| ⑥ | 検査顕微鏡（電動レボルバ大型） | BH2-UMA | OLYMPUS | |
| ⑦ | レーザートリマー | GSI ESI |
M250 （M３１０改造⇒M350） | 2002 |
| ⑧ | Micro focus X-ray CT system マイクロフォーカスX線CTシステム |
SHIMADZU | SMX-100CT-SV3 TypeⅡ | 2005 |
| ⑨ | Wafer 研磨機 （新品同様） | フリッチュジャパン | SCAN-DIA | 2010 |
| ⑩ | IC HANDLER V4 ２Sets | YAMAHA | V4 （チェンジキット画像調整） | |
| ⑪ | リアルサーフェスビュー顕微鏡 | Keyence | VE-7800 | June-2003 |
| ⑫ | リアルサーフェスビュー顕微鏡/EDX付き | Keyence | VE-8800/EDX Genesis 2000 | 2007 |
| ⑬ | TEST Handler 6SETS | YOKOGAWA | HS2000 | 2010 |
| ⑭ | TEST Handler 3SETS | ADVANTEST | M4182 | |
| ⑮ | TEST Handler 2SETS | ADVANTEST | M6721A | |
| ⑯ | Tester + Handler | ADVANTEST | T5593+M6771AD+M6541AD | |
| ⑰ | 太陽電池 ワイヤソー | 安永yasunaga | TW-320C 2 Sets | 2010 |
| ⑱ | 遠心分離装置 | ノリタケ | NS-100型 ３Sets | 2010 |
| ⑲ | スパッタリング装置 | キャノンアネルバ | L-430S-FHL １Sets | 2009 |